صفحه اصلی
تازههای کتابخانه
حساب کاربری من
راهنما
ورود به سیستم
نام کاربری
کلمه عبورتان را فراموش کردهاید؟
درخواست عضویت
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits (c2000)
/
Bushnell ، Michael L (1950-)
، نویسنده
نوع مدرک:
متون چاپی
سرشناسه
Bushnell ، Michael L (1950-)
، نویسنده
ردهبندی کنگره :
TK7874.75
.B87 2000
عنوان :
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
تکرار نام مولف :
Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
ناشر:
Boston : Kluwer Academic
سال نشر :
c2000
فروست :
Frontiers in electronic testing
؛ 17
صفحه شمار:
xviii, 690 p
ویژگی :
ill
ابعاد :
26 cm
شابک/شاپا
0792379918 (alk. paper)
یادداشت
Includes bibliographical references (p. [631]-670) and index
شناسه افزوده :
Agrawal ، Vishwani D (1943-)
موضوعها :
اصفا
Integrated circuitsVery large scale integration
؛
Digital integrated circuitsTesting
؛
Mixed signal circuitsTesting
؛
Semiconductor storage devicesTesting
لینک ثابت رکورد:
../opac/index.php?lvl=record_display&id=8838
زبان مدرک :
English
درخواست رزرو
فهرست موجودی مدرک
شماره ثبت
شماره بازیابی
نام عام مواد
محل نگهداری
بخش
وضعیت ثبت
وضعیت امانت
گرایش
0118000778
TK7874.75 .B87 2000
منابع الکترونیکی:کتاب
کتابخانه موسسه آموزش عالی آیندگان
برق
اسناد معمولی
موجود
نسخههای الکترونیک مرتبط با رکورد
Adobe Acrobat P...
نظرهای کاربران درباره این مدرک
تعداد نظرات کاربران :0 . برای افزودن نظر خود کلیک نمایید.
رای شما :
بدون امتیاز
بد
ضعیف
خوب
بسیار خوب
جذاب
موضوع
شرح نظر شما
درباره ما
نام کتابخانه در اوپک
جستجوی گوگل
پاسارگاد
انتخاب زبان :
ارمنی
انگلیسی
عربی
فارسی
کردی