دسترسی همگانی(OPAC) نام کتابخانه در اوپک

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits (c2000) / Bushnell ، Michael L (1950-)، نویسنده بازکردن سند389.pdf
نوع مدرک:متون چاپی
سرشناسهBushnell ، Michael L (1950-)، نویسنده
رده‌بندی کنگره :TK7874.75 .B87 2000
عنوان :Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
تکرار نام مولف :Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
ناشر:Boston : Kluwer Academic
سال نشر :c2000
فروست :Frontiers in electronic testing ؛ 17
صفحه شمار:xviii, 690 p
ویژگی :ill
ابعاد :26 cm
شابک/شاپا0792379918 (alk. paper)
یادداشتIncludes bibliographical references (p. [631]-670) and index
شناسه افزوده :Agrawal ، Vishwani D (1943-)
موضوع‌ها :اصفا
Integrated circuitsVery large scale integration ؛ Digital integrated circuitsTesting ؛ Mixed signal circuitsTesting ؛ Semiconductor storage devicesTesting
لینک ثابت رکورد:../opac/index.php?lvl=record_display&id=8838
زبان مدرک :English

 درخواست رزرو

شماره ثبتشماره بازیابینام عام موادمحل نگهداریوضعیت ثبتوضعیت امانتگرایش
0118000778TK7874.75 .B87 2000 منابع الکترونیکی:کتابکتابخانه موسسه آموزش عالی آیندگاناسناد معمولیموجود  

تعداد نظرات کاربران :0 . برای افزودن نظر خود کلیک نمایید.