رکوردهای مرتبط با این فروست

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits (c2000) / Bushnell ، Michael L (1950-)، نویسنده 

نوع مدرک: متون چاپی سرشناسه Bushnell ، Michael L (1950-)، نویسنده رده‌بندی کنگره : TK7874.75 .B87 2000 عنوان : Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits تکرار نام مولف : Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal ناشر: Boston : Kluwer Academic سال نشر : c2000 فروست : Frontiers in electronic testing ؛ 17 صفحه شمار: xviii, 690 p ویژگی : ill ابعاد : 26 cm شابک/شاپا 0792379918 (alk. paper) یادداشت Includes bibliographical references (p. [631]-670) and index شناسه افزوده : Agrawal ، Vishwani D (1943-) موضوع‌ها : اصفا Integrated circuitsVery large scale integration ؛ Digital integrated circuitsTesting ؛ Mixed signal circuitsTesting ؛ Semiconductor storage devicesTesting لینک ثابت رکورد: ../opac/index.php?lvl=record_display&id=8838 زبان مدرک : English

 درخواست رزرو

 فهرست موجودی مدرک

شماره ثبت	شماره بازیابی	نام عام مواد	محل نگهداری	بخش	وضعیت ثبت	وضعیت امانت	گرایش
0118000778	TK7874.75 .B87 2000	منابع الکترونیکی:کتاب	کتابخانه موسسه آموزش عالی آیندگان	برق	اسناد معمولی	موجود

 نسخه‌های الکترونیک مرتبط با رکورد

Adobe Acrobat P... 389.pdf

 نظرهای کاربران درباره این مدرک

تعداد نظرات کاربران :0 . برای افزودن نظر خود کلیک نمایید.

رای شما : بدون امتیاز بد ضعیف خوب بسیار خوب جذاب

موضوع

شرح نظر شما